The Influence of the Metal Microstructure on the Breakdown Mechanism of Schottky Diodes
Vol 1, Issue 1, 2018
Abstract
Full Text:
PDFReferences
1. S. M. Sze, Physics of Semiconductor Devices (Wiley, New York, 1981; Mir, Moscow, 1984), chap. 1, p. 34.
2. M.P. Lepseiter, S.M.Sze, Bell. Syst.Tech. 1968, J 47, p.195.
3. Askerov Sh.G., Report lab. For semiconductor devices Properties of Al-nSi Schottky barrier diodes. 1974, TUD, Lyngby.p.1-22
4. Аскеров Ш.Г., Миkроэлектроника, Вольт –амперная характеристика диодов Шоттки в обратном направлении. 1977. Эт.сер.93. т.1. №17, с.63-66
5. Afandiyeva I.M., Altındal Ş., Abdullayeva L.K. Illumination dependent electrical characteristics of PtSi/n-Si(111) Schottky Barrier Diodes (SBDs) at room temperature, Journal of Modern Technology & Engineering, vol.2, No.1, p.43-56, 2017
6. Шишкин Б.Б., Метод измерения термоэлектронной эмиссии «пятнистых» катодов. 1985. Радиотехника и электроника, т.ХХХ, вып.4, с.788-792.
7. Sh. G. Askerov and G. G. Kadimov, Izv. Akad. Nauk AzSSR, Ser. Fiz.-Tekh. Mat. Nauk, No. 2, 21 (1986).
8. Шахлар Аскеров, Физика неоднородного контакта металл –полупроводник, Lambert Academic Publishing, p.77, 2017
9. V. S. Fomenko, Emission Properties of Materials (Nauk. Dumka, Kiev, 1981), p.146 [in Russian].
10. Askerov, S.Q., Abdullayeva, L.K., M.H. Hasanov, Origin of discrepancies in the experimental values of the barrier height at metal–semiconductor junctions Semiconductors (2017) 51: 591-593.
11. Аскеров Ш.Г. Геометрический механизм пробоя диодов Шоттки. 1982.Тем. сб. АГУ Электронные явления в твердых телах и газах, Баку. с.25-54.
12. A. Yu. Loskutov and M. S. Mikhailov, Principles of the Complex System Theory (Moscow, Izhevsk, 2007), p. 17 [in Russian].
Refbacks
- There are currently no refbacks.

This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.
This site is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.